TAQS(Toyotsu Automotive Quality Support Center)
半導体デバイス故障/良品解析・信頼性試験

TAQS機能の概要

TAQSでは電子部品の故障/良品解析、信頼性試験、断面解析等お客様の困り事のサポートをいたします。
本サービスは、当社が取り扱う商材以外のデバイスでもご利用可能です。

TAQS解析機能概要

半導体デバイスの故障解析（非破壊/破壊）をワンストップで対応いたします。
半導体デバイスの良品解析も対応いたします。

ex:
・信頼性試験を実施する時間がないため、代替的に製品の物理的なリスクを確認したい
・製品を分解し、内部の構造を知りたい
・新規部品選定の参考にしたい
・過去にトラブルのあった部品がちゃんと対策されているか確認したい

 

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